從廢舊金屬中的雜質元素的分析、來料檢測，到鑄造過程中的QAQC、熔體控製以及成品檢測，連貫的質量控製在整個金屬加工行業中都至關重要。
OE750光電直讀光譜儀是用於確定各種金屬的元素組成的非常值得信賴和廣泛使用的分析技術。
日立的OE750光電直讀光譜儀采用*CMOS和CCD技術，提供準確性和精確性最高的分析結果。功能強大又

OE750光電直讀光譜儀(yi) 實現高分辨率和寬動態範圍要歸功於(yu) 采用了*CMOS探測器技術的***新光學理念。其中有四項**正處於(yu) 申請狀態。因此，這種新型分析儀(yi) 能覆蓋非常寬的波長範圍；這意味著該分析儀(yi) 能測量金屬中ppm級別的所有元素。這對於(yu) 滿足當今嚴(yan) 格的金屬規格分析至關(guan) 重要，該分析儀(yi) 可以滿足新的ASTM E415標準中關(guan) 於(yu) 碳鋼和低合金鋼的試驗方法的要求。　

OE750光電直讀光譜儀(yi) 是鋁鑄件的理想光譜儀(yi) ，因為(wei) 它可以測定亞(ya) 共晶和過共晶鋁矽合金中含量極低的磷。它可以分析銻、鉍、鍶和鈉，以及雜質和痕量元素，從(cong) 而確保這些元素能夠被控製在鋁熔體(ti) 中，以優(you) 化結構改造。**性光學設計能實現更短的啟動時間，因為(wei) 光學係統的體(ti) 積相對較小。這有助於(yu) 那些需要在多點測量驗證熔體(ti) 質量的工廠實現高批量生產(chan) 。

除了新的光學設計之外，OE750光電直讀光譜儀(yi) 還有其他支持大批量金屬分析的技術特性。它有一個(ge) 新的密封火花台，具有優(you) 化層流設計，可降低氬氣消耗，降低汙染的可能性，並大大降低維護要求。帶有低壓氬氣吹掃的*中壓係統可減少泵的使用。這可將泵的功耗降低90%，並避免油氣汙染，從(cong) 而增加可靠性和儀(yi) 器的正常運行時間。這使得OE750具有高可靠性和低運行成本。

新型OE750還包括可提高性能的軟件。例如，它包括日立牌號數據庫，該數據庫包含來自69個(ge) 國家的339,000多種材料的1,200多萬(wan) 條記錄和標準，減少了人工查閱牌號目錄的時間和潛在錯誤。可選的爐料校正軟件會(hui) 自動計算添加至熔體(ti) 中的正確材料量，使其符合規範。